諾貝爾獎得主、美籍華人物理學(xué)家丁肇中18日公布阿爾法磁譜儀項目最新研究成果，進一步顯示宇宙射線中過量的正電子可能來自暗物質(zhì)。

　　2011年升空的阿爾法磁譜儀由國際空間站搭載，任務(wù)是尋找暗物質(zhì)并探尋其起源。根據(jù)現(xiàn)有理論，宇宙中的暗物質(zhì)遠遠多于普通物質(zhì)，暗物質(zhì)碰撞會產(chǎn)生過量的正電子，阿爾法磁譜儀可對宇宙射線中的正電子進行精密觀測。

　　根據(jù)最新發(fā)布的數(shù)據(jù)，阿爾法磁譜儀觀察到的410億個宇宙射線事件中，約有1000萬個是電子或正電子。從8吉電子伏特(1吉等于10億)的能量開始，正電子占電子與正電子總數(shù)的比例快速增加，在275吉電子伏特左右停止增長。比例上升的過程較為均衡，沒有明顯的峰值。此外，正電子似乎來源于宇宙空間的各個方向，而不是某個特定方向。

　　研究人員說，觀測到的正電子分布特征與暗物質(zhì)理論的某個模型一致，該模型認(rèn)為暗物質(zhì)由一種稱為“中輕微子”的粒子組成。不過，這些過量的正電子到底是來源于暗物質(zhì)，還是來源于脈沖星等天文現(xiàn)象，還需要進一步分析確認(rèn)。相關(guān)論文發(fā)表在最新一期的美國《物理評論快報》上。

　　研究小組在同一期雜志上發(fā)表的另一篇論文認(rèn)為，宇宙射線中電子與正電子的通量(即單位時間里通過單位面積的粒子數(shù)量)分布顯著不同，其特征也顯示，過量的高能正電子有可能來自于暗物質(zhì)碰撞。

（來源：新華網(wǎng) 張淼 施建國）